【新品上市】精密LCR分析仪AN89603
2026-08-19

  一、行业背景

  目前,我国被动元件产业已进入高质量发展阶段,在新能源汽车、消费电子、数据中心等市场需求的持续带动下,市场规模保持稳步增长。据权威统计数据显示,2025年,中国被动元件的市场规模达1604亿元,同比增长12.71%,预计2026年市场规模将进一步攀升至1808亿元。与此同时,国产化替代持续推进,高端化进程不断加快,为行业发展注入了新的增长动能。

  二、应用需求

  随着电子产品持续向高频化、小型化和高集成度演进,被动元件的性能与可靠性已成为影响整机品质和使用寿命的重要因素。唯有性能稳定、参数一致且可靠性优异的被动元件,方能支撑新一代电子信息的高质量发展。因此,构建完善精准的测试体系,对于保障产品研发设计、工艺优化及规模化生产中的质量一致性至关重要。为此,国家出台多项产业引导规范标准,为被动元件产业向高端化、高可靠性等方向发展提供了坚实的政策支撑。

  1.相关标准

 

  2.测试参数

 

  3.测试难点

  当前,被动元件测试的挑战已从“能否测”转向“能否测得准、测得全、测得智能”。这些问题广泛存在于产线测包、来料检验、研发验证与失效分析等环节。具体体现在以下几点:

  1)高频测试能力不足,无法匹配真实工况。

  被动元件阻抗特性随频率显著变化。传统LCR测试仪频率上限大多止步于100kHz,而开关电源、无线充电、车载电子等工作频率已突破此限。一颗在工频下正常的电容,可能在数百kHz下ESR急剧升高导致电路失效,测试与工况脱节。

  (2)阻抗测量范围有限,高阻器件测试困难。

  常规LCR测试仪阻抗上限多为MΩ级,面对高阻值电阻、低泄漏电容、压电陶瓷器件及绝缘材料时力不从心,需额外配置专用高阻计,影响测试效率与设备投入成本。

  (3)操作流程复杂,参数设置效率偏低。

  传统仪器采用物理按键与层级菜单,设置频率、电平、偏置、分选阈值等参数需多次切换页面,不同器件切换时需手动逐一重置,产线换线时间长,对操作人员经验依赖度高。

  (4)信息呈现碎片化,偏差判定依赖人工计算。

  常规LCR测试仪一次仅显示1~2个参数,获取完整信息需反复切换界面。来料检验时需手动计算实测值与标称值的偏差百分比,批量较大时效率低且易出错,影响入库节奏。

  (5)自动化集成门槛较高,分选精细度受限。

  部分仪器接口兼容性差、协议不开放,与分选机、测包机集成难度大。产线需按容值偏差进行多档分级,不少仪器档位有限、阈值设定繁琐,难以满足精细化生产管理要求。

  (6)缺乏接触状态实时监测,误测风险较高。

  自动化高速测试中,夹具接触不良直接影响测量准确性,既降低产线良率,也可能使不良品流入下游。部分方案缺乏接触状态实时监测能力,问题难以及时发现。

  (7)残余电荷保护能力不足,带电电容接入易损坏仪器。

  产线或维修场景中,电容器即使经过放电,仍可能残留数十至数百伏电压。常规LCR测试仪残余电荷保护能力有限,意外接入带电电容时易导致前端电路烧毁。工程师不得不反复确认电容是否完全放电,既影响测试效率,也增加了设备损坏风险与维修成本。

  (8)数据管理方式僵化,文件操作不灵活。

  传统仪器虽具备数据存储功能,但文件名通常为系统自动生成的固定编号,无法自定义,多批次测试后难以追溯。测试数据只能整体导出,无法将当前测量结果实时追加至指定文件,数据管理灵活性不足,导出过程也较为繁琐。

  (9)缺乏扫频分析能力,需额外配置阻抗分析仪。

  常规LCR测试仪仅支持单频点测量,无法获取阻抗-频率全曲线,也难以定位谐振点与阻抗突变点。如需进行扫频测量、压电谐振分析等深度测试,必须额外采购阻抗分析仪,设备成本大幅增加。

  三、解决方案

  艾诺仪器凭借在测量领域持续的技术创新与研发积淀,面向被动元件行业宽频率、高精度、高速度的测试需求,全新推出精密LCR分析仪AN89603系列,以解决以上测试痛点。

  (1)宽频率覆盖

  频率范围20Hz~300kHz,步进精细至5mHz。从音频设备、电源滤波的低频段,到通信设备、开关电源的中高频段全面覆盖,确保元件在实际工作频率下完成验证。

  (2)超宽阻抗测量范围

  阻抗测量范围1mΩ~200MΩ。毫欧级触点电阻、pF级小电容、兆欧级高阻器件及压电陶瓷均可精准测量,无需额外配置专用设备,一机覆盖全量程。

  (3)5英寸触摸屏+智能自动设定

  搭载5英寸彩色触摸屏,参数设置直观便捷。内置自动参数测试(Auto Set)功能,智能识别被测器件特性,自动匹配最佳量程与测试参数,一键完成配置,显著提升换线效率。

  (4)四参数同屏显示,每参数独立切换偏差模式

  支持17项核心参数,最多4个参数同屏显示,可自定义配置组合。每个显示参数均可独立切换为偏差显示模式,直接呈现实测值与标称值的绝对偏差或百分比偏差,合格判定直观明确,来料检验无需人工计算。配合分选功能,可按偏差范围自动精细分档。

  (5)高速高精+灵活分选与开放接口

  基本精度±0.05%,最快测量速度2ms。内置多档分选功能,配合Handler接口无缝对接自动化设备,支持LAN、USB、RS232通信,测试数据可实时上传MES/ERP系统。

  (6)接触检测功能

  内置5档灵敏度可调接触检测,实时监测HCUR~HPOT、LCUR~LPOT回路状态。接触不良时即时报警,避免无效测量,从源头保障测试结果有效性与产线良率。

  (7)增强型残余电荷保护,从容应对带电电容接入

  内置增强型残余电荷保护电路,最大放电耐压达1kV,显著高于常规LCR测试仪。即使被测电容未经充分放电,仪器内部电路亦可得到有效保护,大幅降低因操作疏忽导致的设备损坏风险,让产线测试与维修检测更加安心。

  (8)灵活的数据存储与文件管理

  支持32000组测试数据与40组面板测量设置本地存储。测量设置和结果均支持自定义文件命名,便于多品种、多批次管理。测试数据可实时追加写入指定文件,不同批次测量结果可归入同一文件,无需测试完成后统一整理。品种切换时预存参数一键调用,数据支持U盘便捷导出。

  (9)集成阻抗分析仪核心功能

  集成参数扫描、列表扫描、等效电路模型拟合、连续测量、压电/晶振分析等多项深度分析能力。支持频率、电平、偏置等参数扫描,扫描点最多1601个。能够进行压电/晶振元件的谐振分析。可基于实测数据自动提取等效电路模型参数,为电路仿真与失效分析提供可靠支撑。无需额外购置阻抗分析仪,一机完成全频段特性扫描与深度分析。

  四、测试场景

  精密LCR分析仪AN89603系列贯穿电子设备从研发到应用的全生命周期。

  (1)元器件制造——产线测试与测包

  在电容、电感等被动元件的生产制造环节,仪器被广泛部署于自动化产线。元件从料盘上料,完成电性参数测量后,由分选系统根据预设阈值自动判定合格/不合格并进行多档分级,良品送入载带封装成卷——这就是“测包”全流程。测包场景的核心要求是高速度(毫秒级单颗测试)、高可靠性(24小时连续运转)以及完善的通信接口(与自动化设备无缝对接)。

  (2)来料检验(IQC)

  元器件上线前,品质部门必须对供应商来料进行严格抽检。一颗参数漂移的电容可能导致整批电源板纹波超标,一颗Q值偏低的电感可能让无线充电效率骤降。来料检验要求仪器具备高精度和宽频率覆盖,在不同频率下验证元件性能是否在规格范围内。

  (3)研发与设计验证

  电路设计阶段,工程师需要精确测量阻抗特性、寄生参数,建立准确的元件模型以保证仿真与实测一致。研发场景需要多功能(支持多种参数测量与扫描分析)和高精度(基本精度±0.05%)。

  (4)电路板维修与故障诊断

  约七成硬件故障源于元器件性能退化或参数漂移。LCR分析仪可精准定位电解电容ESR升高、电感匝间短路等隐性故障,是维修工程师不可或缺的诊断工具。

  五、技术规格

 

  结语

  艾诺公司全新推出的精密LCR分析仪AN89603系列,以宽频率、高精度、高速度为基石,同时将分析仪级的功能集成于一体。在基本精度达到±0.05%、对标国际高端产品的基础上,集成了全频段扫描和等效电路拟合等功能,实现测试与分析能力的全面升级。无论是产线2ms高速测试与Handler无缝对接、来料检验的高精度偏差判定,还是研发阶段的全频段列表扫描、阻抗特性分析,电路设计中的等效模型拟合,以及压电器件谐振频率精准定位、失效分析中的寄生参数深度提取,均可一机完成,全面覆盖从制造到研发的多元测试需求。凭借卓越的测试性能与分析能力,不仅解决了传统LCR设备“测不准、测不快”的基础难题,更突破了“测不全、析不了”的技术瓶颈,成为贯穿产线制造、品质管控与实验室研发全流程的核心测试与分析平台,以领先的技术实力和可靠的产品品质,赢得国内外客户的广泛认可。


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